A CONTINUOUS X-RAY STUDY OF THE INTERFACIAL REACTION IN AU-AL THIN-FILM COUPLESVAN DEN BERG JM; HAMM RA.1981; J. VAC. SCI. TECHNOL.; ISSN 0022-5355; USA; DA. 1981; VOL. 19; NO 1; PP. 84-88; BIBL. 11 REF.Article

FORMATION OF INTERMETALLICS AND GRAIN BOUNDARY DIFFUSION IN CU-AL AND AU-AL THIN FILM COUPLES = FORMATION DE COMPOSES INTERMETALLIQUES ET DIFFUSION AUX JOINTS DE GRAINS DANS LES COUPLES DE COUCHES MINCES CU-AL ET AU-ALVANDENBERG JM; DEN BROEDER FJA; HAMM RA et al.1982; THIN SOLID FILMS; ISSN 0040-6090; CHE; DA. 1982; VOL. 93; NO 3-4; PP. 277-280; BIBL. 16 REF.Conference Paper

A COMPARATIVE STUDY OF DIFFUSION INDUCED GRAIN BOUNDARY MIGRATION, RECRYSTALLIZATION AND VOLUME DIFFUSION DURING THE LOW TEMPERATURE DIFFUSION OF AL INTO CU AND AU = EINE VERGLEICHENDE STUDIE DER DIFFUSIONSINDUZIERTEN KORNGRENZENWANDERUNG, REKRISTALLISATION UND VOLUMENDIFFUSION WAEHREND DER NIEDRIGTEMPERATURDIFFUSION VON AL IN CU UND AU = UNE ETUDE COMPARATIVE DE LA MIGRATION INTERGRANULAIRE INDUITE PAR DIFFUSION, DE LA RECRISTALLISATION ET DE LA DIFFUSION VOLUMIQUE LORS DE LA DIFFUSION A BASSE TEMPERATURE DE AL DANS CU ET AUBROEDER FJA DEN; KLERK M; VANDENBERG JM et al.1983; ACTA METALL.; ISSN 0001-6160; USA; DA. 1983-02; VOL. 31; NO 2; PP. 285-291; BIBL. 25 REF.Article